X-rite 369是一台性能卓越的透射式光密度儀，特別適用於測量重氮片。它在印刷電路 板（PCB）領域的質量控制測量中有廣氾應用。 校準后的X-rite 369將是你對重氮片進行 統計質量控制的最佳選擇。它可以為供應商和客戶節約材料，並幫您發現和解決生產中的問題。

技術規格：
1、測量直徑：1mm，2mm及3mm（0.5mm附加）
2、測量範圍：0～6.0D 0～100％（網點）；
3、準確精度：
正色：2mm及3mm測量直徑，精準度為±0.02D（0～5.0D）
±1％（5.0～5.5D）
±2％（5.5～6.0D）
正色：1mm測量直徑，精準度為±0.02D（0～4.5D）
±1％（4.5～5.0D）
紫外線：3mm測量直徑，精準度為±0.02D（0～3.5D）
±1％（3.5～4.0D）
4、重覆精度：
正色：2mm及3mm測量直徑，重覆精度為±0.01D（0～5.0D）
±2％（5.0～5.5D）
±3％（5.5～6.0D）
正色：1mm測量直徑，精準度為±0.01D（0～4.5D）
±1％（4.5～5.0D）
紫外線：3mm測量直徑，精準度為±0.01D（0～3.5D）
±1％（3.5～4.0D）