X-rite 369是一台性能卓越的透射式光密度仪，特别适用于测量重氮片。它在印刷电路 板（PCB）领域的质量控制测量中有广泛应用。 校准后的X-rite 369将是你对重氮片进行 统计质量控制的最佳选择。它可以为供应商和客户节约材料，并帮您发现和解决生产中的问题。

技术规格：
1、测量直径：1mm，2mm及3mm（0.5mm附加）
2、测量范围：0～6.0D 0～100％（网点）；
3、准确精度：
正色：2mm及3mm测量直径，精准度为±0.02D（0～5.0D）
±1％（5.0～5.5D）
±2％（5.5～6.0D）
正色：1mm测量直径，精准度为±0.02D（0～4.5D）
±1％（4.5～5.0D）
紫外线：3mm测量直径，精准度为±0.02D（0～3.5D）
±1％（3.5～4.0D）
4、重覆精度：
正色：2mm及3mm测量直径，重覆精度为±0.01D（0～5.0D）
±2％（5.0～5.5D）
±3％（5.5～6.0D）
正色：1mm测量直径，精准度为±0.01D（0～4.5D）
±1％（4.5～5.0D）
紫外线：3mm测量直径，精准度为±0.01D（0～3.5D）
±1％（3.5～4.0D）